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大口径元件分光光度计

产品介绍

大口径元件分光光度计(SPM-2000-LA ),基于双光路分光光度检测技术,通过光谱数据处理分析各光谱峰值位置、计算膜层的不均匀性。该设备可适用于各类光学元件透射特性、反射特性的检测,包括薄膜材料膜层厚度均匀性的检测和分析。本设备是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器,可根据用户具体需求进行紫外、可见或红外波段的精密检测和分析。

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产品参数
大口径元件分光光度计
型号 SPM-2000-LA
标准测试系统光谱范围 250nm~2500nm
光度测试精度 可见近红外波段:0.05% ( 400nm - 800nm,1OOOnm -1500nm )
波长分辨率 0.1nm-10nm
支持最大样品测试口径 尺寸(φ500mm,厚度60mm
最高扫描分辨率 ≤0.01mm
支持入射角度自动调整 入射角度调整范围0°〜45°
自动扫描范围 ≥φ400mm 区域
产品特点

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