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光学弱吸收测量仪(科研级)

产品介绍

光学弱吸收测量仪,是一种基于激光诱导效应的光学测试设备。可以对光学薄膜、光学晶体、激光晶体、各类石英等材料进行吸收缺陷测量和吸收均匀性分布测量。分为检测表面吸收和体内材料吸收。

光学薄膜吸收测量仪(PTS-2000),适用于各类光学薄膜和光学元器件表面吸收率的检测和分析。根据客户具体需求,可进行紫外、可见或者近红外波段的精密测量。

光学材料体内吸收测量仪(PTB-2000 ),适用于各类光学元器件及材料体内吸收率的检测和分析。可以测量吸收均匀性分布、吸收缺陷、掺杂浓度等。对于光学材料内部的质量和指导生产过程具有重要作用。

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产品参数
光学弱吸收测量仪(科研级)
型号 PTS-2000 PTB-2000
功能 表面检测 表面、体内检测
检测灵敏度 0.01ppm
检测波长 355nm、532nm、1064nm或定制波长
横向分辨率 ≤10μm
样品尺寸 ≤100mm x 100mm x 10mm ( L x W x H )

*注:可以根据客户需求提供同类特制仪器和相关测试的解决方案

产品特点

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